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API XD 雷射量測系統

    商品簡述
    API XD雷射干涉儀可以同時量測六個自由度包括定位精度、重複定位精度、直線度及角度﹝Pitch、Yaw﹞。用於工具機和三次元的校正。
     

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      商品詳細介紹Product Introduction

      XD1 可以量測定位誤差和重複定位誤差
      XD3 可以量測定位誤差、直線度誤差﹝雙向﹞
      XD5 可以量測定位誤差、直線度誤差﹝雙向﹞、俯仰角、偏擺角
      XD6 可以量測定位誤差、直線度誤差﹝雙向﹞、俯仰角、偏擺角、滾動角

      結合雙軸向角度量測及雙軸向直度量測感測器於一體。
      允許線性、角度及直度量測同時執行。
      同時即時顯示位移。雙軸向角度, 雙軸向直度值於螢幕上。
      兩點式校準快速，大大地縮短量測時間約70%以上。
      雷射光中斷，系統不需重新設定，可繼續使用。

      如需要詳細資料，歡迎電洽本公司。
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