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WENZEL 精密光學高速掃描 CORE D

    商品簡述
    新一代精密光學高速掃描量測儀CORE D結合雙眼白光感測頭,量測掃描精度與靈敏度更高,具備磁吸式撞擊保護設計,減低不當操作撞擊的損害。

      商品詳細介紹Product Introduction

      精密光學高速掃描量測儀CORE D(非接觸渦輪葉片量測儀),主要是針對能應用於加工現場的檢驗系統並因應工業4.0的需求而研發,量測速度更快,又因是非接觸光學量測,於量測工件銳角邊緣或小尺寸幾何元素(如小圓弧)時,沒有接觸探頭半徑補償所產生的誤差問題,精度更高,也可應用於量測軟性材質的零件;除了可快速量測各種型式的渦輪葉片,也可應用於各種特殊複雜精密零件的尺寸檢驗與品質管制,以及逆向工程應用,且能夠輕易搭配機器手臂上下工件,達到完全自動化檢驗的目標。

      系統特性

      • 五軸傳動機構光學量測系統(X/Y/Z + 2個旋轉軸)。
      • 線性馬達驅動系統。
      • 密封式白光雙眼感測系統,即使閃亮表面或高度反射的工件表面,均可輕易量測。
      • 相位差光學感測單元(選用),可執行區域面積快速量測。
      • 可結合接觸式測頭TP20(選用),擴充量測應用範圍。
      • 磁吸式感測頭結合設計,具防撞保護作用,減低不當操作撞擊損害。
      • 可程式化自動開關隔門,減低環境影響量測結果。
      • 適用於品管檢驗室及生產線現場。
      • 容易整合於產線自動化。
      • 符合工業4.0應用需求。
      • 占地空間小。

      系統規格

      • 量測行程:X=300 mm, Y= 200 mm,Z= 300 mm
      • 感測範圍:± 3 mm
      • 量測角度:85°
      • 工作距離:80 mm
      • 光點尺寸:直徑0.04 mm
      • 最大速度(3D):750 mm/sec
      • 最大加速度(3D):3400 mm/sec2